# Modo Supervisado: exhaustividad, precisión y umbrales

Para comprender mejor los resultados que devuelve la herramienta de análisis roja en modo Supervisado, deberá saber cómo interpretar la exhaustividad, la precisión y los umbrales que usa la herramienta, que están entrelazados; los umbrales afectarán tanto a la exhaustividad como a la precisión.

- La exhaustividad indica el porcentaje de la región total con un defecto etiquetado que está cubierta por un defecto marcado (es decir, encontrado), en todas las imágenes etiquetadas que se están procesando.

- La precisión es el porcentaje de la región total con un defecto marcado que está cubierta por la región con un defecto etiquetado en todas las imágenes etiquetadas que se están procesando.

  Región con defecto etiquetado | Región con defecto marcado | La exhaustividad en este escenario es del 60 % (falta el 40 % del defecto etiquetado en el defecto marcado). La precisión es del 99 %, ya que casi todo el defecto marcado está cubierto por el defecto etiquetado.
  Etiqueta | Marca

Hay dos parámetros de Umbral (que pueden ajustarse gráficamente en el Resumen de base de datos): T1 y T2.

- El umbral inferior (T1) es la puntuación por encima de la que se incluye el píxel de un defecto en una región defectuosa. Cuanto más bajo sea el umbral, más grande será la región con el defecto.
- El umbral superior (T2) simplemente determina la puntuación con la que se marca una imagen como mala. El ajuste de este umbral afecta a la ROC (característica operativa del receptor) y a la matriz de confusión, pero no a la precisión y exhaustividad.

Umbral T1 = 0,10 | Umbral T1 = 0.50

Como se muestra arriba, el ajuste del umbral de T1 afectará inmediatamente tanto a la exhaustividad como a la precisión. A medida que aumenta el umbral de T1, disminuye el defecto marcado. Esto reducirá la cantidad de la región con defectos etiquetados con sus correspondientes defectos, bajando la puntuación de exhaustividad. Al mismo tiempo, la precisión mejorará porque es más probable que las regiones más pequeñas con defectos marcados estén completamente cubiertas por regiones con defectos etiquetados.