# スーパーバイズドモード – 再現率、精度、およびしきい値

スーパーバイズドモードの解析 (赤) ツールによって返される結果についての理解を深めるには、ツールが使用する再現率、精度、およびしきい値の解釈方法について知る必要があります。これらは絡み合っており、しきい値は再現率と精度の両方に影響します。

- 再現率は、処理の対象となっている、ラベルの付けられたすべての画像の中で、マークされている (検出された) 欠陥部分を占める、ラベルの付いた総欠陥領域のパーセンテージを示します。

- 精度は、処理の対象となっている、ラベルの付けられたすべての画像の中で、ラベルの付いた欠陥領域を占める、マークされている総欠陥領域のパーセンテージを示します。

  ラベル付き欠陥領域 | マークされた欠陥領域 | このシナリオにおける再現率は 60% です (ラベル付き欠陥の 40% が、マークされた欠陥に含まれていません)。 精度 99% です。マークされた欠陥のほとんどすべてが、ラベル付き欠陥に含まれています。
  ラベル | マーキング

2 つのしきい値パラメータ (データベースの概要でグラフィカルに調整可能) である T1 と T2 があります。

- しきい値 (下限) (T1) は、欠陥ピクセルが欠陥領域に含まれる得点の下限を示します。しきい値設定が低いほど、欠陥領域は大きくなります。
- しきい値 (上限) (T2) は、画像が「不良」としてマークされる得点を決定します。このしきい値を調整すると、ROC とコンフュージョンマトリックスに影響が及びますが、精度と再現率には影響はありません。

しきい値 T1 = 0.10 | しきい値 T1 = 0.50

上に示すように、T1 しきい値を調整すると、再現率と精度にただちに影響が及びます。T1 しきい値が増加するにつれて、マークされた欠陥が小さくなります。これによって、対応する欠陥を持つラベル付き欠陥の量が少なくなり、再現率得点が低くなります。同時に、精度は向上します。マークされたより小さな欠陥領域は、ラベル付き欠陥領域によって完全に覆われる確率が高くなるためです。