Herramienta de detección de defectos Defecto superficial - ficha Detección de defectos

Define el tipo de procesamiento de imágenes a aplicar a la imagen con el fin de determinar la presencia de defectos (Rápido, Defectos claros, Defectos oscuros o Defectos claros y oscuros; preajuste = Rápido).

• Rápido: Esta opción es ideal para detectar transiciones de intensidad similares a bordes en una superficie, como rayazos o arañazos. Aplica una operación de erosión-dilatación que resalta el borde de un defecto. Es la que se ejecuta más rápidamente. Sin embargo, solo comunica el perímetro del defecto, no su área.
• Defectos claros: Esta opción es ideal para detectar defectos claros, similares a "blobs", sobre un fondo oscuro, así como para detectar defectos en función del tamaño de su área en píxeles. Utiliza una operación de filtrado "top hat", que filtra todo menos las propiedades claras cuyo tamaño sea inferior al valor del parámetro "Tamaño de detección", con el fin de detectar posibles defectos.
• Defectos oscuros: Esta opción es ideal para detectar defectos oscuros, similares a "blobs", sobre un fondo claro, así como para detectar defectos en función del tamaño de su área en píxeles. Utiliza una operación de filtrado "bottom hat", que filtra todo menos las propiedades oscuras cuyo tamaño sea inferior al valor del parámetro "Tamaño de detección".
• Defectos claros y oscuros: Esta opción es ideal para detectar defectos similares a "blobs", tanto claros como oscuros, así como para detectar defectos en función del tamaño de su área en píxeles. Utiliza operaciones "bottom hat" y "top hat" y el resultado máximo de ambas.

Define la imagen de salida que se va a mostrar (Imagen de entrada, Imagen muestreada, Candidatos a defectos o Imagen defectuosa; valor predeterminado = Imagen defectuosa).

• Imagen de entrada: Se mostrará la imagen actualmente adquirida.
• Imagen muestreada: Se mostrará la imagen suavizada y muestreada. Si se ha utilizado una región angular o curvada como entrada, se mostrará la versión transformada y enderezada además de los efectos suavizado y muestreado.
• Candidatos a defectos: Se mostrarán los defectos potenciales. Los defectos potenciales aparecen resaltados contra el fondo.
• Imagen defectuosa: Se mostrarán los defectos. Los defectos se dibujan en blanco, mientras que las demás áreas aparecerán en negro. Esta opción de visualización incluirá defectos que queden fuera de los límites de los defectos definidos (Área mínima de defectos y Área máxima de defectos).

Define la magnitud del muestreo (1-99999; preajuste = 1) de la imagen de entrada, lo que reduce su resolución. Aunque el muestreo reduce el tiempo de ejecución de la herramienta, lo hace a costa de la precisión. A la hora de determinar el valor de muestreo adecuado, el valor 1 indica ningún muestreo, es decir, que la imagen de entrada se utilizará con resolución completa. Cuanto mayor sea el valor, menores serán la resolución y la precisión y mayores los tiempos de ejecución.

Define si la función determinará el factor de suavizado óptimo para aplicar al suavizado de la imagen (preajuste = desactivado). En general, el mejor rendimiento se obtiene si se permite a la función seleccionar el factor de suavizado óptimo.

Define el factor (0 a 99999; preajuste = 0) de suavizado de la imagen. Para determinar el valor óptimo, comience con un valor similar al especificado en el parámetro "Factor de muestreo". Para no especificar ningún suavizado, asigne el valor 0.

Define el eje en el que detectar defectos potenciales (X, Y, X e Y; preajuste = X e Y).

Define el tamaño de la vecindad de detección (1-99999; preajuste = 1), en píxeles. Este parámetro se utiliza para establecer la vecindad de procesamiento, o núcleo, que se utilizará con el parámetro Operación de detección de defectos. Para todas las operaciones de detección de defectos distintas de Rápida, el valor del tamaño debe ser al menos igual que el largo o el ancho de los defectos a detectar.

Define el umbral de intensidad (1 a 255, preajuste = 20) utilizado para detectar defectos. Para que un defecto sea detectado, su intensidad deberá diferenciarse del fondo en la magnitud de este valor.

Define el tamaño mínimo (1-99999, preajuste = 30), en píxeles, de los defectos a detectar.

Define el tamaño máximo (1-99999, preajuste = 99999), en píxeles, de los defectos a detectar.

Define el tiempo, en milisegundos (0 a 30.000; preajuste = 5000), durante el que la herramienta buscará defectos antes de detenerse y devolver un rechazo.

Muestra el recuento total de defectos detectados.