设置外观瑕疵缺陷检测工具掩膜

在“外观瑕疵缺陷检测工具”被添加后，你可以创建一个内部掩膜来高亮显示被检测区域，并排除其它区域。

1. 在掩膜选项卡中，选中“激活掩膜”选择框以使用掩膜。
2. 决定如何生成掩膜：最大分割区域或边缘。默认情况下（“掩膜方式”参数被默认设置为“边缘掩膜”），边缘将会被用来根据边缘强度来生成图像掩膜。使用该图像掩膜，仅边缘的像素会被掩盖，其它的像素会显示。如果选择最大分割区域，那么被检测的区域会成为最大的分割区域，以此来排除不需被检测的背景。
3. 将“显示掩膜图像”参数设置到你想要生成的掩膜类型以通过显示索引和颜色编码后的分割区域高亮显示掩膜。
4. 调整“掩膜平滑因子”来确保图像的边缘被高亮显示。
5. 接着，调整“最大填孔尺寸”、“核心面积中位数”以及“掩膜侵蚀计数”参数。这些参数可以被用来填孔，平滑边界以及/或在图像掩膜中移除窄条。如果选择了“边缘掩膜”，“最大填孔尺寸”参数应该被设置为 0。
6. 一旦掩膜在排除其它特征的同时可以正确地高亮显示部件上所需的特征，点击”训练“按钮以设置掩膜。

注意：除了“区域”参数，所有参数的改变都会更新掩膜并迫使重新训练掩膜。如果“区域”被移动或大小被重置，必须重新点击“训练”按钮以更新掩膜。