红色分析工具 - 高细节

红色分析高细节与红色分析工具 - 监督模式完成相同的任务，但提供结果的方式存在一些差异。这意味着红色分析高细节也像红色分析工具 - 监督模式一样专注于向网络教授缺陷是什么样子。

高细节模式使用与聚焦模式不同的架构。由于架构差异，它在工具参数窗格中没有采样参数，因为它从整个视图中采样。因此，与聚焦模式相比，高细节模式需要更多的训练/处理时间，但您可以获得像素级别的更准确或更详细的结果。在高细节模式下标注图像和创建模型的方式与聚焦模式基本相同，但工具参数有所不同。

与红色分析工具 - 监督模式一样，红色分析高细节仅支持二分类（良好/不良）。这意味着不支持多个类。

在红色分析高细节下将图像标注为良好（即不包含任何缺陷区域的图像）时，一旦该图像被添加到训练集中，工具也将使用该图像进行训练。具体而言，该工具将尝试训练网络，以便标注为良好的图像不会生成任何缺陷响应。将已标注的无缺陷良好图像添加到您的训练图像集，可以帮助您在分类良好图像和不良图像时验证工具的性能。

 

训练高细节模式的过程如下：

1. 收集代表您期望遇到的所有缺陷的图像。

2. 浏览训练图像集中的每个图像，并仔细标注缺陷。绘制区域对于创建更好的模型非常重要。

   缺陷	标签

3. 添加一些良好的图像并将其标注为良好。

4. 编辑工具参数。

5. 训练工具并检查结果。

6. 通过显示在训练期间未使用的图像来验证工具，其中包含缺陷图像和不包含缺陷的良好图像。

   缺陷标记